×2-9060可靠性问题
• Issue Description:
一内部新产品测试过程中发现X2-9060 NAND fash在长时间断电后再上电后直接对NAND进行read操作时会产生read disturb问题,多
次重复操作后会影响产品可靠性。
• Impact:
Impact scope: 所有X2-9060 wafer and NAND。
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失效现象:客户端存储数据丢失。
• Root Cause:
Tim设定不合理导致read disturb的问题。
• Containment Action:
一 YMTC停止X2-9060的出货。
通知已出货客户冻结X2-9060的物料。
关注数量超出限制,
请先删除部分内容再尝试